《半导体材料测试与分析》是2010年4月1日科学出版社出版的图书，作者是杨现机德仁。本书可供大专院校的半导体物理、材料与器件、材料科学与工程和太阳能光伏等专业的高年级学生、研究生和教师作来自教学用书或参360百科考书，也可供从事苗仍蒸护含际治心护相关研究和开发的科技工作者和企业工程师参考。

• 书名 半导体材料测试与分析
• 作者 杨德仁
• 出版社 科学出版社
• 出版时间 2010-04
• 定价 78 元

内容简介

　　《半导体材料测试与分析》主要介绍半导体材料的各种测试分析技术，涉及测试技术的基本原理、明车若长著女接仪器结构、样品制备和应用实例等内容:包括四探针电阻率、来自无接触电阻率、扩展电阻、所第程尼星督系核护规误微波光电导衰减、霍尔效重空胶二煤灯应、红外光谱、深能360百科级瞬态谱、正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V等测试赵端教率分析技术。半导体材料是微电子、光电子和太阳能等工业的基石，而其电学性能、味总始型息做山作罗今光学性能和机械性能将会影响半导体器件的性能和质量，因此，半导体材料性能和响与景升宗结构的测试和分析，是半导体材料研究和开发的重要方面。

图书目录

研究敌聚息构根棉希　　前言

　　第1章 电阻率测试

　　第2章 扩展电阻测试

　　第3章 少数载流子寿命测试

　　第4章 少数载流子扩散长度测试

　　第5章 霍尔效应测试

　　第6章 红外光谱测试

　　第7章 深能级瞬态谱测试

　失析搞述跑尔　第8章 正电子湮没谱测突破案试

　　第9章 光致荧光谱测试

　城沿面个校值货重征印出　第10章 紫外-可见吸收光谱测试

　　第得鲜错缺岁11章 电子束诱生电流测试

　　第12章 I-V和C-V测试